晶型定量分析

传统的定量X射线粉末衍射方法更多地依赖于用内标建立的校准曲线，实际上就是基于内标来进行定量。单峰法本质上是建立晶型含量比例于衍射峰强度比例之间的线性关系。单峰法对样品的信息要求小, 方法简单、灵敏度高, 尤其适于长期晶型定量分析。但是, 该定量方法严重依赖标样的纯度、粒度、制样方法，样品择优取向效应会严重影响单峰法的应用。

Rietveld拟合法的原理是使用整个衍射图谱数据进行分析，通过使用峰型参数、晶体结构参数（晶胞参数、原子位置、物相比例等）可以计算出每个2θ位置下对应的模拟、实验强度y_(obs,i)、y_(cal,i)，再使用最小二乘法与实测图谱进行比较，经过不断调整精修各种参数最小化模拟-实验差值，使得模拟数据逼近实测图谱。Rietveld全谱拟合法相对于传统X射线定量方法的优势在与在于不需要标准品、不需要预先研制标准曲线，仅需要混合物中每个相的结构模型（晶格参数、空间群对称性、原子位置、位置占有率）来模拟粉末衍射图谱，即可进行定量分析。更重要的是，全谱拟合法有能力通过数学模型修正择优取向、仪器构造等因素造成的系统误差、重叠峰分峰处理，使强度值提取更为准确。